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新聞詳情

日本進口大塚的橢圓偏光測量儀FE-5000S（PXM28）

日期：2025-11-01 08:42
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摘要：使用環境 設置場所：屋內設置（避免太陽光直射） 周圍環境：無傾斜，異常震動，灰塵，有害氣體，溫度變動， 電源變動，磁場噪音，不會接觸液體，沒有起火 物質。 高度界限：標準高度2000m 周圍溫度：20-30℃（無劇烈的溫度變化） 相對濕度：30-80%（無結露） 噪 音：60dB以下（距離設備測量1m的距離測量）

日本進口大塚的橢圓偏光量測儀FE-5000S（PXM28）

顯微分光膜厚儀




對應多種膜的解析計算方法

● *小二乘法
通過優良反射率測量和薄膜模擬的fitting，可解析目標膜的膜厚和
光學常數（n:折射率，k:消光系數）。
也可對應層疊結構


● *適合法
在設定的膜厚范圍內，進行薄膜模擬，可自動演算光譜形狀*高
膜厚值的手法?？蓪鄬觢evel的層疊結構。


● 周期解析（FFT法）
通過傅里葉變換計算光干涉的光譜波形的周期性，可自動演算膜厚的
膜厚值。即便沒有基板信息，也可解析，此外，還能對應多層level
的層疊結構


● P（V 峰谷法）
以光干涉法為原理的解析手法。通過輸入單層膜的折射率，即便沒
基板信息，可以自動演算膜厚值。
可在測量的反射率的峰值（谷值）在2個以上時使用。





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