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REVOX推出微米級別劃痕自動檢測裝置

日期：2025-11-14 21:23
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摘要： 光源裝置/圖像計測裝置廠家REVOX（相模原市）開發出一款以微米（um)為單位的自動檢出裝置“Makros-Cf”。該裝置憑借共焦點顯微鏡裝置可自動檢出對象物的傷痕、劃痕等缺陷。 在對有機EL Display等大型產品的表面高速捕捉、讀取圖像后，可自動分析出來傷痕的大小、深度等。 該產品采用特殊的光學Sensor，通過光的變化識別傷痕，通過共焦點鏡頭測定傷痕的大小、形狀、深度。即使復雜的劃痕、傷痕也可**到微米（um）進行測量、通過連接LAN電腦，將傷痕圖像擴大顯示。 以往的...

光源裝置/圖像計測裝置廠家REVOX（相模原市）開發出一款以微米（um)為單位的自動檢出裝置“Makros-Cf”。該裝置憑借共焦點顯微鏡裝置可自動檢出對象物的傷痕、劃痕等缺陷。

在對有機EL Display等大型產品的表面高速捕捉、讀取圖像后，可自動分析出來傷痕的大小、深度等。

該產品采用特殊的光學Sensor，通過光的變化識別傷痕，通過共焦點鏡頭測定傷痕的大小、形狀、深度。即使復雜的劃痕、傷痕也可**到微米（um）進行測量、通過連接LAN電腦，將傷痕圖像擴大顯示。

以往的檢查機僅會進行整體圖像檢查，顯示傷痕的位置。檢查工程的省力化、時間縮短。

采用特殊構造，可吸收測定臺在測定對象在移動時的產品震動，在半導體等檢查、不打亂無塵室內的空氣流進行清潔、維護有獨特優勢。

已經有銷售到半導體、汽車、馬達、醫療器械等領域。

深圳市京都玉崎作為REVOX的中國地區代理商，將竭力為您提供*上等的產品解決方案，*上等的產品以及*上等的的產品服務。

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