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產品詳情
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  • 產品名稱:OURSTEXX射線熒光光譜儀

  • 產品型號:160
  • 產品廠商:OURSTEX
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簡單介紹:
能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導體檢測器測量產生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進行定性和定量分析。
詳情介紹:

元素技術晶體/高靈敏度、高精度

能量色散X射線熒光光譜儀用來自X射線管的初級X射線照射樣品,并用半導體檢測器測量產生的X射線熒光,無論樣品的形狀如何,都可以無損地對元素進行定性和定量分析。
半導體探測器使用不需要液氮冷卻的電子冷卻硅漂移探測器(SDD),并且可以與數字計數電路(DSP)結合使用,以提供高分辨率和高計數率的測量。
為了提高分析性能,我們準備了激發光學系統的條件,可以*大限度地提高半導體探測器的能量分辨率和計數靈敏度。

尺寸圖

160 張尺寸圖像

應用實例

  • 同時分析碘化銫 (CsI) 化合物中的碘 (I) 和銫 (Cs)
  • 焚燒灰燼分析實例
  • 水泥分析示例
  • 采石場沉積物、礫石和碎石的現場分析示例
  • 鋁合金鎂測量示例(各種類型)
  • 農藥污染土壤分析
  • 工業廢棄物分析
  • 土壤中有害重金屬元素的分析
  • 油中的硫分析
  • 新型固體燃料RPF分析

OURSTEX160規格

 

測量原理 能量色散X射線熒光光譜法
測量目標 用于土壤分析的環境樣品(固體、粉末、液體)
被測元素 S、Cr、As、Se、Cd、Hg、Pb(13AI~92U)
試樣形狀 *大78mmφ×55mmH
樣品室的氛圍 大氣層
X射線額定輸出 48kV,*大2mA 50W
探測器 電子冷卻硅漂移探測器
計數電路 數字處理方法
使用條款 溫度:5~27°C 濕度
:20~75% 電源
:AC100V,5A(50/60Hz)
接地:D類接地
其他(可選) 噴墨彩色打印機,鼠標
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