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產品詳情
  • 產品名稱:JASCO日本分光 膜厚測量裝置

  • 產品型號:UTS-2000
  • 產品廠商:JASCO日本分光
  • 產品文檔:
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簡單介紹:
膜厚測量裝置UTS-2000應用*新的光譜分析技術,非破壞性、非接觸式,可以高速、高精度地測量外延膜、基板厚度、蝕刻殘留等膜厚。還可以使用標準自動臺來評估設備表面內的膜厚度分布。
詳情介紹:
測量范圍寬
可以在 0.25 至 750 μm 的寬測量范圍內測量薄膜厚度(基材厚度)。

高精度測量
高精度干涉儀和高通量光學系統可實現膜厚數據的高精度測量。
高效測量
與自動運輸設備兼容。

與工藝使用所需的 FOUP 開啟器和多裝載端口兼容
它還與 FOUP(由存儲晶圓的 SEMI 標準化)和多裝載端口(用于在 FOUP 中裝載和卸載晶圓的接口)兼容。
符合SEMI標準

兼容SEMI標準(半導體設備和材料國際標準)

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