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產品詳情
  • 產品名稱:NAPSON納普森非接觸式全自動分選系統

  • 產品型號:NC-2000FLA
  • 產品廠商:NAPSON納普森
  • 產品文檔:
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簡單介紹:
NC-2000FLA 用于非接觸式(渦流法、電容法)電阻率和平整度測量的全 自動分選系統
詳情介紹:

產品特性和功能

多點測量
多點多點測量
非接觸式
非接觸式非接觸式
電腦和軟件
電腦和軟件
全自動
全自動全自動型

電阻率、平坦度(厚度)和PN判斷均為全自動非接觸式測量。

  • 電阻率采用渦流法,平坦度采用電容法。
  • 適用于硅晶圓、GaP 和 InP 等化合物半導體的生產控制
  • 具有溫度補償功能的溫度計(硅片)
  • 磁帶的數量可以根據您的要求而多

測量規格

測量目標

  • 半導體和太陽能電池材料(硅、多晶硅、碳化硅等)
  • 化合物半導體(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)

目標大小

3~8寸

測量范圍

[電阻率] 1m~200Ω·cm (*所有探頭類型的總量程/厚度500um)
[片狀電阻] 10m~3kΩ/s (*所有探頭類型的總量程)
[厚度] 150~1,200μm

*每種探頭類型的測量范圍請參考以下內容。
(1)低:0.01~0.5Ω/□(0.001~0.05Ω·cm)
(2)中:0.5~10Ω/□(0.05~0.5Ω·cm)
(3)高:10~1,000Ω/□(0.5~60Ω·cm)
(4)S-高:1,000~3,000Ω/ □(60~200Ω·cm)

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