AFM檢測性能的全新定義
適合更寬應用領域的*高性能的大樣品AFM成像
  ◆ 對所有AFM樣品提供*高性能的測量
  ◆ 提供更廣泛的AFM模式與應用
  ◆ 提供定量的納米材料性能圖譜
  ◆ 由**的峰值力模式實現
Bruker Dimension® Icon? 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的AFM應用體驗，其測試功能強大，操作簡便易行。仍然以世界上應用*廣泛的AFM大樣品平臺為基礎，齊集 Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求，進行**革新。全新的系統設計，實現了****的低漂移和低噪音水平，現在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。
Dimension® Icon?優良的圖像分辨率，與Bruker特有的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業××地位，*新的Dimension® Icon?是針尖掃描技術的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實現了Z軸亞埃級和XY軸埃級的低噪音水平，將其應用在90微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優于高分辨小樣品臺AFM的開環噪音水平。全新設計的XYZ閉環掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時，也不會損壞圖像質量，實現了更大的數據采集輸出量。
**體驗
  ◆ 獨特的傳感器設計，在閉環條件下，也能實現大樣品臺、針尖掃描的AFM具有與開環噪音水平一樣的低噪音水平，且具有極高的掃描分辨率
  ◆ 極大地降低噪聲水平，在輕敲模式下低于30pm，接觸模式下可獲得原子級圖像
  ◆ 熱漂移速率低于200pm/分鐘，獲得真正的樣品圖像
高效率
  ◆ XYZ閉環掃描器的**設計，使儀器在較高掃描速度工作時，也不降低圖像質量，具有更大的數據采集效率
  ◆ 將十年的研發經驗融入到參數預設置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認的實驗模式。
  ◆ 高分辨率相機和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測量位置
全功能
  ◆ 針尖和樣品之間開放式的空間設計，不僅可以進行各種標準實驗，也可以自行設計實驗方案，滿足不同研究工作的需求
  ◆ 硬件和軟件技術的不斷**，新開發的HarmoniX 模式，可以測量納米尺度上材料性質
  ◆ 用戶實用程序腳本提供半自動測量方案和數據分析。

BRUKER布魯克 原子力顯微鏡 Dimension® Icon?

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